Matveeva, N. A. Surface defect detection with neural networks [Electronic resource] / N. A. Matveeva, A. A. Gurtovoy // Системні технології = System technologies : Регіональний міжвузівський збірник наукових праць. - 2020. - Том Т.126, N 1. - P96-103 : il., а-граф., а-табл. - Бібліогр. в кінці ст. . - ISSN 2707-7977
Компьютерные технологии Аналітична хімія Аналитическая химия Кл.слова (ненормовані): composite materials -- композиційні матеріали -- neural networks -- нейронні мережі -- multilayer perceptron with backpropagation -- багатошаровий персептрон із зворотним поширенням навчання -- defect -- дефект -- function of activity -- напрям діяльності Дод.точки доступу: Gurtovoy, A. A. Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене) |