В 47 Serediuk, B. Brief overview of the epr spectra of In4Se3 intercalated by Cu / B. Serediuk, I. Stefaniuk> // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвід. науково-технічний збірник, вид. з 1965 р. / Львів. політех. - Львів : Вид-во НУ "Львівська політехніка", 2018. - Вип. 79(1). - P48-51. - Бібліогр. в кінці ст.
Кл.слова (ненормовані): layered semiconductor -- шаруватий напівпровідник -- magnetic sensor -- магнітний сенсор -- intercalation -- інтеркаляція -- electron paramagneticrresonance (EPR) -- електронно-парамагнітний резонанс (ЕПР) Дод.точки доступу: Стадник, Б. І. \ред.\; Stefaniuk, I.; Львівська політехника Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене) |
В 47 Seredyuk, B. Influence of the metallic impurities in A3B6 type layered semiconductors on their electrical, magnetic and structural properties / Bohdan Seredyuk> // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвід. науково-технічний збірник, вид. з 1965 р. / Львів. політех. - Львів : Львівська політехніка, 2017. - Вип. 78. - С. 10-15. - Бібліогр. в кінці ст.
Электроизмерительная техника Кл.слова (ненормовані): layered semiconductor -- шаруватий напівпровідник -- impedance -- імпеданс -- Bode diagrams -- діаграми Боде -- intercalation -- інтеркаляція Дод.точки доступу: Стадник, Б. І. \ред.\; Львівська політехника Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене) |