Ковальчук, В. (доктор фізико-математичних наук; зав. кафедри Військової академії; м. Одеса). Нанометрологія та електронні властивості наноструктур / В. Ковальчук, О. Панченко, В. Рац // Метрологія та прилади : науково-виробничий журнал. - 2012. - № 4. - С. 60-66. - Бібліогр. в кінці ст. 10 назв. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
Метрологія Кл.слова (ненормовані): неразрушающие методы контроля -- неруйнівні методи контролю -- наноструктуры -- наноструктури -- вимірювання -- измерения -- нанотехнології -- нанотехнологии -- нанометрологія -- нанометрология Анотація: Проаналізовано дослідження механізмів формування наноструктур з метою розроблення єдиного підходу до метрологічного описання властивостей матеріалів і пристроїв, що експлуатують квантово-розмірні ефекти. Порушені питання мають пряме відношення до неруйнівних методів контролю в нанотехнологіях. Дод.точки доступу: Панченко, О. (викладач Військової академії м. Одеса); Рац, В. (викладач Кременецького обласного гуманітарно-педагогічного інституту ім. Т. Шевченка) |
Ковальчук, В. (доктор фізико-математичних наук; Військова академія; м. Одеса). Твердотільні датчики на основі гетеропереходів з нанокластерною підсистемою / В. Ковальчук // Метрологія та прилади : науково-виробничий журнал. - 2012. - № 6. - С. 62-64. - Бібліогр. в кінці ст. 7 назв. - 6 рис. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
Измерительные преобразователи Кл.слова (ненормовані): вимірювальні перетворювачі -- измерительные преобразователи -- нанометрологія -- нанометрология -- інформаційно-вимірювальні системи -- информационно-измерительные системы -- фоточутливість датчиків -- фотовосприимчивость датчиков Анотація: Розглянуто конструктивні особливості твердотільного датчика на основі гетеропереходу, що має нанокластерну підсистему. |
Ковальчук, В. (доктор фізико-математичних наук; професор; директор коледжу комп`ютерних технологій; Одеський екологічний університет). Кластерна модифікація аморфної матриці / В. Ковальчук, О. Маслій, О. Афанасьєва // Метрологія та прилади. - 2013. - № 6. - С. 54-57. - Бібліогр. в кінці ст. 8 назв. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
Метрология Кл.слова (ненормовані): нанокластери -- аморфна матриця -- аморфні матеріали -- нанокластеры -- аморфная матрица -- аморфные материалы -- нанометрология -- нанометрологія Анотація: Розглянуто можливість управління властивостями аморфних матеріалів за рахунок їх модифікування нанокластерами. Утримувачі документа: НБ УІПА Дод.точки доступу: Маслій, О. (кандидат педагогічних наук; заступник начальника; Військова академія; м. Одеса); Афанасьєва, О. (старший викладач; Військова академія; м. Одеса) |